WI-5000 係（xì）列幹涉式同軸3D位移測量儀最快僅需 0.13 秒（miǎo），即可捕捉到最大尺寸為 10×10 mm的目標區域的三維圖像。該傳感器能同時記錄目標表麵 80,000 個高度數據點（diǎn），擁有超大檢測範圍（最大可達 10 × 10 mm），可瞬間測量麵粗糙度（Sa、Sz）和線粗糙度（Ra、Rz），並（bìng）在線識別（bié）是否為良品。WI-5000 係列應用白光幹涉技術（shù），能夠有（yǒu）效應對鏡麵、透明與深色材料表麵的測量挑戰，顯著提升複雜材（cái）質下的測量效率。該傳感器（qì）由於采用同軸測量，可有效減少溝槽及其他高度急劇變（biàn）化的（de）形狀中無法進行精（jīng）準測量的盲區。為了用於離線檢測，備有可固定測量頭的專用底座,隻要使用位置補正功能，即可無需（xū）繁瑣（suǒ）的定位，實現僅需（xū）放置就能完成的檢測（cè）。
針（zhēn）對最（zuì）大 10 × 10 mm 的測（cè）量區域，可瞬間獲取 8 萬個點的高（gāo）度。 由於采用白光幹涉（shè）原（yuán）理，不受材（cái）質/顏色、死角的影響，實現了微米級的高精度測量。
測量多點（diǎn）時，需（xū）要高精度且高速掃描目標物。 因此，會將時間浪（làng）費在（zài）移動載物台上，不易進行全數檢（jiǎn）測。 由於（yú） WI-5000 係列是以麵進行同時測量，因此可大幅縮短測量時（shí）間，實現全數檢測。
為了用於離線檢測，備有可固定（dìng）傳感器頭的專用底（dǐ）座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。 改善從簡易測量到保存數據等（děng）各種情況的（de）可操作性。
