適用於各種目標物的測量能力
最大掃（sǎo）描區域50 mm見方（fāng）。凹凸不平或（huò）手掌大小的物體（tǐ）也能整體掃描（miáo）。隻需一台設（shè）備，即可同時掌握整體形狀和（hé）局部形狀。
VK-X3000 係列
采用了（le）三重掃描方式，運用激光共聚焦、白光（guāng）幹涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率（lǜ），平麵、凹凸表麵的細微粗糙度，以（yǐ）及（jí）鏡麵體，透明體等。VK擁有應對（duì）多種樣品的測量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米（mǐ）/毫米一台完成（chéng）測量。
即使是納米級（jí）的微小形狀變化（huà）也能準確測（cè）量。此外，如鏡麵體、透明體等測量難度高的材料也能實現高速、高精度、大範圍的測量。
