TDR波（bō）形如何測（cè）試

TDR波（bō）形測試（shì）步驟如下：

1. 準備測（cè）試設備：確保TDR設備（如Keysight E5071C網絡（luò）分析儀（yí））支持TDR功能，並配備適當的校準套件。

   
   

2. 連接被測（cè）器件：使用同軸電纜將被測器件（如電纜、PCB走（zǒu）線（xiàn））連（lián）接到TDR設（shè）備的測試端口，並根據需要端接處理。

   
   

3. 設置儀器參數：

   • 切換到時域模式（Time Domain）。
   • 選擇低通模式（LowPass）以適應階躍響應。
   • 設置時間窗口以覆蓋被測線路的長度。
   • 設置激勵帶寬以提高時（shí）間分辨率。
     

4. 校（xiào）準儀器（qì）：執行頻（pín）域校準（如SOLT校準）以消除（chú）係統誤差，並進（jìn）行時域校準補償（可選）。

   
   

5. 進行TDR測量：

   • 設置觸發方（fāng）式（如內部觸發）。
   • 測量S11反射係數並觀察時域波形。
   • 通過（guò）反射係數計算阻抗，並定位阻抗不連續（xù）點。

6. 分析結（jié）果：

   • 識別故（gù）障點：正反射峰表示阻抗升高（如（rú）開路），負反射峰表示阻抗降低（dī）（如短路）。
   • 測量距離：將時間轉換為距離（lí），計（jì）算故障點位（wèi）置。

7. 保存與導出數據：保存波形圖（tú）像，並導出時域數據以供進一步分析。